探针台主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。 广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发,旨在确保质量及可靠性,并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。
从功能上来区分有:温控探针台,真空探针台(超低温探针台),RF探针台,LCD平板探针台,霍尔效应探针台,表面电阻率探针台
半自动型技术指标
1、载片台能通电机控制(可编程)实现X-Y-Z-Theta四个方向运动,平坦度<±12um;
2、载物台XY移动范围:310*310mm,移动分辨率:0.5um,移动精度:±2.5um,最大移动速度:>80mm/sec;
3、载物Z方向移动范围>5mm,移动分辨率:0.5um,移动精度:±2um,重复精度:±1um;
4、载物台Theta旋转范围:±5.0°,旋转分辨率:0.0001°,旋转精度<2.5um;
5、支持12英寸晶圆适用之CHUCK 盘,兼容4、6、8、12 inch Wafer及4mm x 4mm以上之单个DIE吸附;
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